本文標題："偏光顯微鏡可用應(yīng)用來測量反射率-測量光學(xué)儀器"
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偏光顯微鏡可用應(yīng)用來測量反射率-測量光學(xué)儀器
在測量顯微鏡中可使用偏光鏡檢術(shù)觀測法
偏光顯微鏡是專門判斷物質(zhì)細微構(gòu)成的光學(xué)性能質(zhì)量的一種測量
儀器，一般特有雙折射的物質(zhì)，在偏光顯微鏡下可以清晰的區(qū)別開來，
然而這些物體也能用染色發(fā)進行觀測，但是有一些也不可以，則一定
要采用偏光顯微鏡。
偏光顯微鏡的特點就是將普通光變換為偏光進行鏡檢的方式，去
判定一些物質(zhì)是單折射還是雙折射性。雙折射性是晶體的主要的特別
性能，所以偏光顯微鏡廣泛的適用于礦物。化學(xué)等領(lǐng)域。
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