本文標(biāo)題："球狀顆粒光學(xué)測(cè)量投影儀的原理-圖像分析顯微鏡"

球狀顆粒光學(xué)測(cè)量投影儀的原理-圖像分析顯微鏡

    圖像分析的數(shù)學(xué)基礎(chǔ)圖像分析的理論基礎(chǔ)是體視學(xué)。體視學(xué)本身
的發(fā)展已有一段相當(dāng)?shù)臍v史，最初它是由于地質(zhì)上巖相分析和天文學(xué)
上計(jì)算銀河系星球分布的需要而發(fā)展起來的，但隨著顯微鏡的應(yīng)用，
特別是近代圖像分析儀的引入，

    體視學(xué)目前已形成一門完整的學(xué)科。

    簡(jiǎn)單地說，體視學(xué)是將圖像在平面上投影所得到的幾何參數(shù)，進(jìn)
行數(shù)學(xué)處理，以求取圖像的空間幾何特性。，如各個(gè)圖像間距離分布、
圖像大小分布等。

    對(duì)球狀顆粒，由投影尺寸分布計(jì)算空間尺寸分布，按照體視學(xué)的
早期研究，有兩種分析方法：線性分析和平面分析。在兩種方法中，
線性分析比起平面分析，精度上雖然低一些，但是不管是測(cè)量投影尺
寸還是數(shù)據(jù)處理都簡(jiǎn)單得多‘。因此，在圖像分析儀出現(xiàn)之前，線性
分析應(yīng)用更廣一些。
 

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