本文標(biāo)題："金相分析軟件測(cè)量晶粒大小可以使用的截點(diǎn)方法"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過-----時(shí)間：2014-4-5 5:15:33
金相分析軟件測(cè)量晶粒大小可以使用的截點(diǎn)方法
把大量截點(diǎn)的統(tǒng)計(jì)優(yōu)點(diǎn)和在測(cè)量中正態(tài)分布的離差結(jié)合起來而獲
得的正態(tài)分布估計(jì)值，這種統(tǒng)計(jì)學(xué)的方法被用于表示最好及最差狀況
的顯微組織中。其主要結(jié)論和發(fā)現(xiàn)是：
1.更確切地說，對(duì)于具有均勻等軸晶粒組織和非均勻變形晶粒組
織的兩種鐵素體鋼是有效的，在95% 置信度下它測(cè)得的晶粒尺寸精確
度達(dá)到3%
2.改進(jìn)了的測(cè)量晶粒大小的截點(diǎn)法進(jìn)行的步驟，提供了定量測(cè)定
的又快、又準(zhǔn)確的方法。
3.最后，這一方法用以測(cè)量混合晶粒組織時(shí)是足夠靈敏的。
后一篇文章：測(cè)量電鍍層厚度的儀器-顯微分析光學(xué)顯微鏡 »
前一篇文章：« 定量測(cè)量單相顯微晶粒大小-金屬試樣顯微分析顯微鏡
tags:技術(shù),材料學(xué),金相顯微鏡,上海精密儀器,
金相分析軟件測(cè)量晶粒大小可以使用的截點(diǎn)方法,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁地址：/gxnews/1523.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/