本文標(biāo)題："普通光學(xué)顯微鏡下觀察礦物中微量碎片特征"

普通光學(xué)顯微鏡下觀察礦物中微量碎片特征

砂樣品的包裹體兩片光薄片的制備

    方法基本同上，只是省去切割工序。用環(huán)氧樹脂將其粘在24X24X2
毫米的玻璃片上烘烤，膠硬化后即可磨樣、拋光。其余工序同其他兩
面光片。

    光薄片用于研究巖石礦物中微量鈾裂變碎片對周圍介質(zhì)產(chǎn)生強烈
輻射損傷的軌跡（徑跡）。由于徑跡很細小，需要經(jīng)化學(xué)蝕刻才能在
普通光學(xué)顯微鏡下觀察，因此對這種光薄片的要求也與普通的光薄片
不同。

    ③厚度要適當(dāng)。透明度好的礦物磨薄至0.06-0.08 毫米；透明度
較差的礦物，光薄片的厚度為0.04-0.05 毫米。

    薄片太厚，透明度不好，會影響鏡下觀察；薄片過薄，在進行酸
堿腐蝕時易損壞薄片。

    ②拋光質(zhì)量要特別好，光潔度極高并無條痕和麻點。否則蝕刻后
會出現(xiàn)假蝕刻坑，與徑跡混淆而影響觀察。

    ③粘結(jié)膠既要粘結(jié)牢固、透明度好，又能耐強酸強堿的腐蝕。

后一篇文章：掃描電子顯微鏡樣品的制備步驟-顯微儀器常識 »
前一篇文章：« 巖礦樣品切割與制備用儀器-金相分析顯微鏡

tags:技術(shù),金屬,材料學(xué),金相顯微鏡,上海精密儀器,

普通光學(xué)顯微鏡下觀察礦物中微量碎片特征,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)

本頁地址：/gxnews/1540.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/