本文標題："金屬截面光學(xué)顯微鏡觀察剖面的金相結(jié)構(gòu)"
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金屬截面光學(xué)顯微鏡觀察剖面的金相結(jié)構(gòu)
除了對斷口的光學(xué)顯微鏡觀察外還可進行斷口剖面觀察。在分析研究斷裂原因、斷
裂過程時，僅靠斷口形貌分析是不夠的，往往還需要觀察斷口的垂直截面，以利于搞清斷
口表面(主裂紋)走向與晶粒的位向關(guān)系、與晶界的關(guān)系、與夾雜物的關(guān)系、與孿晶的位向
關(guān)系以及二次裂紋的走向與分布等。斷口剖面分析能有效地揭示材料在制造、加工過程
中產(chǎn)生的缺陷，分析各種不利工況和環(huán)境對材料性能的影響等。它可以對夾雜物、微觀組
織偏析、脫碳、增碳、熱處理不當、硬化層深度、鍍層厚度、晶粒大小及熱影響區(qū)進行檢測和
分析。
斷口剖面通常是垂直于斷口表面，有時也可使剖面與斷口表面呈一定角度。制備剖
面樣品時必須保護好斷口表面，通常采用鍍鎳保護，也可采用金相鑲嵌法保護。
電子顯微鏡在斷口分析中應(yīng)用廣泛。它可以依據(jù)斷口的微觀形貌特征判定斷裂的類
型，從裂紋源處查明斷裂原因。它還能進行斷裂失教的定量分析，如進行韌性的定量測
量，分析測定裂紋的擴展速率、斷裂過程與影響因素之間的定量關(guān)系等。因此，電子斷口
分析對斷裂機理的研究有重要作用。
斷口微觀形貌中.韌窩、解理花樣、疲勞輝紋等分別是判斷金屬韌性斷裂、解理斷裂和
疲勞斷裂的主要依據(jù)。
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金屬截面光學(xué)顯微鏡觀察剖面的金相結(jié)構(gòu),金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
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