本文標題："金屬截面晶粒尺寸測量其厚度用工具顯微鏡"
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金屬截面晶粒尺寸測量其厚度用工具顯微鏡
要解決該問題，首先要能識別再結(jié)晶區(qū)的存在。由于再結(jié)晶
區(qū)的組織結(jié)構(gòu)、彈性模量與未發(fā)生再結(jié)晶的區(qū)域有較大的差異，可
能在兩者界面上產(chǎn)生超聲波的反射，從而可利用反射信號識別再
結(jié)晶層并測量其厚度;同時，兩者晶粒尺寸與組織結(jié)構(gòu)的差異也可
能引起超聲散射信號的差異，通過信號處理識別再結(jié)晶層的存在。
在可識別再結(jié)晶層的情況下，一方面要根據(jù)基體和再結(jié)晶層組織
結(jié)構(gòu)特點合理制訂檢測工藝，得到準確波形;另一方面，要研究如
何進行信號分析和特征值提取，這兩點是再結(jié)晶層超聲無損檢測
的關(guān)鍵所在。檢測方法的確定主要考慮如何獲得準確的超聲回波信號。
對于具有再結(jié)晶層的葉片，得到的超聲脈沖回波信號比較
復雜，不同界面的多次回波互相交錯，甚至疊加，帶來波形識別上
的困難。為此，首先應(yīng)保證探頭與探傷儀之間的良好匹配，并設(shè)法
獲得聲束寬度很細的脈沖信號;其次，通過驅(qū)動裝置控制探頭的移
動范圍和精度，以便改變聲束焦點的位置，獲得不同深度、不同位
置處的精確回波。
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