本文標(biāo)題："晶粒構(gòu)成的多晶體試樣檢測用電子顯微鏡的常識"
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晶粒構(gòu)成的多晶體試樣檢測用電子顯微鏡的常識
當(dāng)一電子束穿過任一晶體的周期性晶格時(shí)，將會被衍射.如
果將透射電子顯微鏡的光學(xué)布置稍作改變，就能把試樣的衍射花
樣(而不是表面形貌圖象)投影在熒光屏上.如相對于光束的截面
積而言，晶體的尺寸足夠大，
則將產(chǎn)生衍射斑點(diǎn)并可用晶體結(jié)構(gòu)來
診釋.對于近似完整的晶體，還能看到菊池線(Kikuohi lines);
有時(shí)可用它們來測定晶體取向.由很多尺寸比光束面積小得多
的，并且無規(guī)則取向的小晶粒構(gòu)成的多晶體試樣，將產(chǎn)生圓環(huán)狀
的衍射花樣。取一級近似，環(huán)的直徑D可由下式給出(除非在試樣
與熒光屏之間還有放大級存在)，
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