本文標(biāo)題："用實(shí)體顯微鏡測(cè)量統(tǒng)計(jì)-礦物分析顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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用實(shí)體顯微鏡測(cè)量統(tǒng)計(jì)-礦物分析顯微鏡
影響礦物單體解離度測(cè)定精度的因素
樣品代表性的影響
比重大小不一的選礦產(chǎn)品，堆放時(shí)會(huì)因重力分異作用而
使某些顆粒產(chǎn)生局部富集，造成抽樣誤差。因此，在取樣
縮分過(guò)程中，一定要充分拌勻，用縮分器劃四分法嚴(yán)格操
作，直至縮分取得具有代表性的樣品，并按規(guī)定脫磁、脫
泥后進(jìn)行分析，才能保證測(cè)量統(tǒng)計(jì)結(jié)果的精度。
在磨制團(tuán)塊光片時(shí)，礦樣與粘結(jié)劑要充分?jǐn)嚢瑁辰Y(jié)劑
的分量要恰當(dāng)，千萬(wàn)不能過(guò)多，否則礦物顆粒會(huì)比重不同
而造成分布不均勻，產(chǎn)生測(cè)量誤差。
截面的影響
邊生體顆粒是立體形態(tài)，而在光片上妯露的僅是其中一
截面，當(dāng)制片中僅切到一種礦物時(shí)， 不可避免地會(huì)把一
部分邊生體顆粒誤認(rèn)為是單體顆粒，但決不會(huì)把單體顆粒
誤認(rèn)為連生體顆粒，因而造成截面單體顆粒比實(shí)際單體顆
粒偏高。根據(jù)這種統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)計(jì)算的單體解離度也同樣偏高
，光片中邊生體顆粒愈多，這種誤差愈大。這種誤差要結(jié)
合連生類(lèi)型加以修正。
但是，左路用實(shí)體顯微鏡測(cè)量統(tǒng)計(jì)時(shí)，由于觀(guān)察到的是
礦物顆粒的立體形態(tài)，所以此項(xiàng)誤差基本不存在，因此，
對(duì)400目以上的選礦產(chǎn)品，一般應(yīng)在實(shí)體顯微鏡下觀(guān)測(cè)；
對(duì)負(fù)0.037-0.018mm粒級(jí)的產(chǎn)品，才需要磨制成光片在礦
相顯微鏡下觀(guān)測(cè)。
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