本文標題："互相鑲嵌的地質結構斷面測定粗糙度顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------
人瀏覽過-----時間：2015-8-17 4:17:9
互相鑲嵌的地質結構斷面測定表面粗糙度儀顯微鏡
(a)結構面壁的粗糙度可能是其抗剪強度的重要組成
部分。對于沒有發(fā)生位移和互相鑲嵌的地質結構面(例如未
充填的節(jié)理)尤其如此。結構面壁的粗糙度之重要性隨裂縫
開度、充填物厚度，或原始位移的增加而降低。
(b)一般地說：結構面壁的粗糙度可由起伏度和不平
整度來表征。起伏度表征大規(guī)模的起伏，這時如果結構面互
相鑲嵌和接觸，在發(fā)生剪切位移時就要產生膨脹，由于起伏
規(guī)模大不致被剪壞。不平整度表征小規(guī)模的粗糙度，在發(fā)生
剪切位移時，它們將被剪壞，結構面壁的強度高和(或)所施
加的應力低時例外。所以剪脹也可能出現(xiàn)在小規(guī)模的結構面
上。
(c)實際上，起伏度只影響剪切位移的開始方向(以平均結構
平面為基準)，而不平整度則影響實驗室的或中等規(guī)模的現(xiàn)場
直接剪切試驗的抗剪強度。
(d)如果已知可能的滑動方向，則可沿與滑動方向平
行的斷面測定粗糙度。在很多情況下，相應的方向是與傾斜
(傾向)平行的。在滑動受兩個相交結構平面控制的情況下，
可能滑動的方向與這兩個平面的交線平行。當考慮拱形壩支
座的穩(wěn)定性時，可能的滑動方向可有一顯著的水平分量。
后一篇文章：礦物成分顆粒分析技術-礦物分析圖像顯微鏡廠商 »
前一篇文章：« 巖體構造斷口,結構面的粗糙度計量光切顯微鏡
tags:材料學,技術,科學,礦物,金相顯微鏡,上海精密儀器,
互相鑲嵌的地質結構斷面測定粗糙度顯微鏡,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應
本頁地址：/gxnews/2765.html轉載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/