本文標(biāo)題："測(cè)量覆層取樣的方法-檢測(cè)件的結(jié)構(gòu)分析顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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測(cè)量覆層取樣的方法-檢測(cè)件的結(jié)構(gòu)分析顯微鏡
取樣
測(cè)量覆層某一部位的厚度并不能確定各點(diǎn)的厚度。通常取樣．
應(yīng)根據(jù)要求在關(guān)鍵部位之一處或多處選?。绻麤](méi)有要求，也．
應(yīng)在關(guān)鍵表面且最不符合覆層厚度要求處進(jìn)行取樣．
取樣大小可根據(jù)具體檢測(cè)件的結(jié)構(gòu)而定，通常為不大于1 2
25mm的方形塊或圓柱體。此外，取樣應(yīng)注意不要改變覆層
尺寸。
邊緣保護(hù)
邊緣保護(hù)是在試樣的覆層表面上再加一層覆層，其目的是在：
試樣制備過(guò)程中起保護(hù)試樣的邊緣作用。保護(hù)覆層用的金屬材料
硬度應(yīng)具有近似子覆層金屬材料的硬度，而且應(yīng)和被測(cè)覆層顏色．
有較好的對(duì)比度，因此采用的金屬材料要加以選擇。如測(cè)量鎳鍍．
層時(shí)選用銅作邊緣保護(hù)層，反之測(cè)量銅鍍層時(shí)選用鎳作保護(hù)層．
對(duì)于鋅和鎘鍍層不宜用銅作保護(hù)層，因?yàn)樵诮g過(guò)程中銅層-
會(huì)遮蔽被測(cè)鍍層。通常測(cè)鋅鍍層用鎘作保護(hù)層，而測(cè)鎘鍍層又甩
鋅作保護(hù)層。
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