本文標(biāo)題："掃描穿隧顯微鏡的原理-利用尖細(xì)的探針來掃描樣品表面"
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掃描穿隧顯微鏡發(fā)展
解析度的掃描穿隧顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope：STM)。
STM是利用一尖細(xì)的探針來掃描樣品表面凹凸不平的程度，掃描用的探針往往可以細(xì)到針尖只有一兩個原子，
所以得到樣品表面的原子影像就變得容易多了。在這之前，只有場離子顯微術(shù)(Field Ion Microscopy：FIM)及電子顯微術(shù)具有相同的能力，
但是場離子顯微鏡及電子顯微鏡都必須在高度真空下才能操作，
不像STM可以在真空、大氣中，甚至在液體中均可進(jìn)行。況且，場離子顯微鏡的樣品必須是很尖細(xì)的高熔點金屬針，
SPM與前二代顯微鏡不僅成像原理不同，而且更為令人興奮的是SPM中的某些品種還能操縱一個個原子、分子。
最早的成果是IBM的科學(xué)家用一個個氙原子在Ni表面上排布成IBM商標(biāo)字樣。目前在操縱原子、分子上又有很大發(fā)展，
SPM使人類在奈米尺度上，觀察、改造世界有了一種新的工具和手段。由于SPM的優(yōu)良特性，使其一誕生便得到廣泛的重視。主要應(yīng)用在
教學(xué)、科研及工業(yè)領(lǐng)域，特別是半導(dǎo)體集成電路、光盤工業(yè)、膠體化學(xué)、檢測、存儲磁盤、電池工業(yè)、光學(xué)晶體等領(lǐng)域。隨著SPM的不斷發(fā)展，它
正在進(jìn)入食品、石油、地質(zhì)、礦產(chǎn)及計量領(lǐng)域
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