本文標(biāo)題："細(xì)小的金屬單晶纖維需要電子掃描式顯微鏡才能看見(jiàn)"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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錯(cuò)位是一種晶體之線性瑕疵，也就是眾原子之排列發(fā)生了錯(cuò)亂。這種錯(cuò)亂，
使得晶體局部產(chǎn)生扭曲，因而能夠改變那透過(guò)金屬薄片之電子束（Electron Beam）
之進(jìn)行方向。所以我們可藉透視電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope）
來(lái)觀察呈黑絲狀的錯(cuò)位。最常見(jiàn)的一種錯(cuò)位是晶體內(nèi)半個(gè)平面之原子“失蹤”。
這種錯(cuò)位易于敘述和解釋。而這些錯(cuò)位之易于移動(dòng)，使得實(shí)際上之晶體變得很“軟弱”──
即在很小的應(yīng)力之作用下，便承不住而變形。
這種情形可舉一日常所見(jiàn)之慣例來(lái)解說(shuō)之，如果地毯鋪得相當(dāng)?shù)钠剑?/div>
則我們要費(fèi)很大的力量才拉得動(dòng)整個(gè)地毯。就如需要極大的應(yīng)力才能使沒(méi)有瑕疵的晶體變形
一樣。假使地毯上有道隆起之脊背，當(dāng)我們拉動(dòng)此地毯時(shí)，該脊背能順沿著地毯而移動(dòng)。
實(shí)際上，我們是在間接地將該脊背移動(dòng)。自然我們所用之力較拉全平之地毯小得多。
同樣的道理，很小的應(yīng)力便能將晶體內(nèi)之錯(cuò)位移動(dòng)而使之變形。
同時(shí)也說(shuō)明了為何那幾乎無(wú)瑕疵的晶體其強(qiáng)度幾能達(dá)理論值（例如細(xì)小的金屬單晶纖維）
由上所述，我們可得到一個(gè)結(jié)論，金屬?gòu)?qiáng)化的方法，便是要防止錯(cuò)位之存在或是阻撓已存在
著的錯(cuò)位之移動(dòng)。值得注意的是，金屬之延性（Ductility）也是由于錯(cuò)位之移動(dòng)來(lái)決定
。其與強(qiáng)度所不同的是趨勢(shì)相反──錯(cuò)位愈容易移動(dòng)，
則延性愈高。所以我們常須在強(qiáng)度與延性間作個(gè)妥協(xié)，以求得最適用之材料。
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